Yen-Wei Chen: Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms

Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms
Buch
  • Theory and Practice
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  • Springer International Publishing, 05/2024
  • Einband: Gebunden, HC runder Rücken kaschiert
  • Sprache: Englisch
  • ISBN-13: 9783031598104
  • Bestellnummer: 11883993
  • Umfang: 132 Seiten
  • Auflage: 2024
  • Gewicht: 395 g
  • Maße: 241 x 160 mm
  • Stärke: 13 mm
  • Erscheinungstermin: 31.5.2024
  • Serie: Intelligent Systems Reference Library - Band 255

  • Achtung: Artikel ist nicht in deutscher Sprache!

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