Yen-Wei Chen: Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms

Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms
Buch
  • Theory and Practice
lieferbar innerhalb 2-3 Wochen
(soweit verfügbar beim Lieferanten)
EUR 164,28*

Der Artikel Yen-Wei Chen: Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms wurde in den Warenkorb gelegt.

Zum Warenkorb Weiter einkaufen
Verlängerter Rückgabezeitraum bis 31. Januar 2025
Alle zur Rückgabe berechtigten Produkte, die zwischen dem 1. bis 31. Dezember 2024 gekauft wurden, können bis zum 31. Januar 2025 zurückgegeben werden.
  • Springer International Publishing, 05/2024
  • Einband: Gebunden, HC runder Rücken kaschiert
  • Sprache: Englisch
  • ISBN-13: 9783031598104
  • Bestellnummer: 11883993
  • Umfang: 132 Seiten
  • Auflage: 2024
  • Gewicht: 395 g
  • Maße: 241 x 160 mm
  • Stärke: 13 mm
  • Erscheinungstermin: 31.5.2024
  • Serie: Intelligent Systems Reference Library - Band 255

  • Achtung: Artikel ist nicht in deutscher Sprache!

Mehr von Yen-Wei Chen

Sicherheits- und Herstellerinformationen

Bilder zur Produktsicherheit

Herstellerinformationen

Books on Demand GmbH
In de Tarpen 42
22848 Norderstedt

info@bod.de

Bitte beachten Sie

Wir können nicht sicherstellen, dass die Bewertungen von Verbrauchern stammen, die das Produkt tatsächlich genutzt oder erworben haben.