Marc Daniel Hummel: Synchrotron-basierte in situ Analyse wellenlängenabhängiger Prozessphänomene beim..., Kartoniert / Broschiert
Synchrotron-basierte in situ Analyse wellenlängenabhängiger Prozessphänomene beim Laserstrahlschweißen von Kupfer
Buch
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Aktueller Preis: EUR 54,00
- Verlag:
- Apprimus Verlag, 04/2025
- Einband:
- Kartoniert / Broschiert
- Sprache:
- Deutsch
- ISBN-13:
- 9783985552696
- Artikelnummer:
- 12265263
- Umfang:
- 188 Seiten
- Nummer der Auflage:
- 25001
- Ausgabe:
- 1. Auflage
- Gewicht:
- 281 g
- Maße:
- 210 x 148 mm
- Stärke:
- 12 mm
- Erscheinungstermin:
- 14.4.2025
Klappentext
Laserstrahlquellen mit 515 nm Wellenlänge bieten für das Schweißen reflektierender Kupferlegierungen eine Alternative gegenüber etablierten Laserstrahlquellen im nahen Infrarotbereich. Diese Arbeit untersucht mittels hochauflösender Synchrotron-Phasenkontrast-Bildgebung die Prozessphänomene beim Schweißen von CuSn6 und Cu-ETP. Die gewonnenen Erkenntnisse ermöglichen eine verbesserte Prozesskontrolle für die anfertigung hochpräziser Schweißnähte und werden für das Laserstrahlschweißen mit örtlicher und zeitlicher Leistungsmodulation eingesetzt.Anmerkungen:
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