Emanuel Kayser: Refractionstafeln für Kreis, Faden und Positions-Micrometer, anwendbar in Polhöhen zwischen 32° 90° NF.2,3.4
Refractionstafeln für Kreis, Faden und Positions-Micrometer, anwendbar in Polhöhen zwischen 32° 90° NF.2,3.4
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- Antigonos Verlag, 11/2024
- Einband: Kartoniert / Broschiert, Paperback
- Sprache: Deutsch
- ISBN-13: 9783386331500
- Bestellnummer: 12077027
- Umfang: 276 Seiten
- Gewicht: 404 g
- Maße: 210 x 148 mm
- Stärke: 19 mm
- Erscheinungstermin: 7.11.2024
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Klappentext
Unveränderter Nachdruck der Originalausgabe von 1871. Der Verlag Antigonos spezialisiert sich auf die Herausgabe von Nachdrucken historischer Bücher. Wir achten darauf, dass diese Werke der Öffentlichkeit in einem guten Zustand zugänglich gemacht werden, um ihr kulturelles Erbe zu bewahren.Anmerkungen:
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